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波长扫描式 自动变角度光谱椭偏仪
光谱椭偏仪用于测量单层和多层纳米薄膜的层构参数(如,厚层厚度、表面为粗糙度等)和光学参数(如,折射率n、消光系数k、复介电常数ε等),也可用于测量块状材料的光学参数。
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ESS01 波长扫描式 自动变角度光谱椭偏仪
ESS01是针对科研和工业环境中薄膜测量推出的波长扫描式、高精度自动变入射角度光谱椭偏仪,此系列仪器波长范围覆盖紫外、可见、近红外到远红外。ESS01采用宽光谱光源结合单色仪的方式实现高光谱分辨的椭
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Film Sense FS-1™多波长椭偏仪
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波长扫描式 自动变角度光谱椭偏仪
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ESS01 波长扫描式 自动变角度光谱椭偏仪
ESS01是针对科研和工业环境中薄膜测量推出的波长扫描式、高精度自动变入射角度光谱椭偏仪,此系列仪器波长范围覆盖紫外、可见、近红外到远红外。ESS01采用宽光谱光源结合单色仪的方式实现高光谱
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快速摄谱式 自动变角度光谱椭偏仪
光谱椭偏仪用于测量单层和多层纳米薄膜的层构参数(如,厚度)和物理参数(如,折射率n、消光系数k),也可用于测量块状材料的折射率n和消光系数k。
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HORIBA.AutoSE.全自动快速椭偏仪
一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE——新型的全自动薄膜测量分析工具。采用工业化设计,操作简单,可在几秒钟内完成全自动测量和分析,并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。
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椭偏仪堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 椭圆偏振光谱仪研究ZnO薄膜
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可用于测定ZnO薄膜,适用于光学常数项目。并且参考多项行业标准0。可应用于涂料行业领域。 技术参数: * 光谱
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堀场HORIBA椭偏仪HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 椭圆偏振光谱仪的标准应用
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 可用于测定ZnO薄膜,适用于Al含量,膜厚度项目。并且参考多项行业标准0。可应用于电子/半导体行业领域。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量
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波长扫描式 多入射角光谱椭偏仪
光谱椭偏仪用于测量单层和多层纳米薄膜的层构参数(如,膜层厚度、表面微粗糙度等)和光学参数(如,折射率n、消光系数k、复介电常数ε等),也可用于测量块状材料的光学参数。
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